X荧光光谱仪EDX860D

仪器介绍  

      本仪器专门针对贵金属测试，可测试环形样品内壁及普通平面测试，具有以下特点：体积小巧，外型庄重大方，手动升降平台满足不同大小样品的测试，样品固定方便快捷，可方便换准直器，准直器直径为1.5mm，可测试较小区域，下照式，大窗口正比计数盒保证计数率满足分析需要，宽阔样品腔可满足较大样品的测试，摄像头激光精确定位实现可视化定位，良好的射线屏蔽确保操作人员。

性能特点

1.大功率光管；
2. 大窗口面积正比计数盒；
3. 外型小巧，庄重大方；
4. 宽阔样品腔，方便操作及测试较大样品；
5. 手动升降平台确保测试不同大小环状样品；
7．小准直器，利于测试样品小区域；
8. 摄像头与激光定位，可视地准确定位到被测点，测试时激光点自动关闭，利于拍摄清晰照片；
9. 良好的射线屏蔽确保操作人员的安全。

技术指标

分析含量一般为ppm到99.9％；
任意多个可选择的分析和识别模型；
相互立的基体效应校正模型；
多变量非线性回归程序；
电源：交流220V±5V；
测量时间：60-200S
管压：5-50KV
管流：50-1000μA
温度适应范围：15℃-30℃

标准配置

正比计数盒；
50W X光管；
高压电源 50kV@1mA；
摄像头激光定位装置；
高灵敏度信号检测电子电路；
手动升降平台；
样品夹；
橡皮泥；
准直器直径为1.5 mm
外观尺寸： 430×380×355 mm
样品腔尺寸：306×260×78mm
重量：34Kg

应用领域

首饰加工厂
金银珠宝首饰店
贵金属冶炼厂
质量检验部门
分析测试中心
典当行